中性硼硅玻璃安瓿中铝、硅、硼元素的迁移量与其内表面脱片趋势关系的研究

赵泽馨, 张迪, 刘巧, 赵龙山

药物分析杂志 ›› 2019, Vol. 39 ›› Issue (12) : 2214-2220.

药物分析杂志 ›› 2019, Vol. 39 ›› Issue (12) : 2214-2220. DOI: 10.16155/j.0254-1793.2019.12.13
安全监测

中性硼硅玻璃安瓿中铝、硅、硼元素的迁移量与其内表面脱片趋势关系的研究

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
作者信息 +

Study on the relationship between the migration of aluminum, silicon and boron in neutral borosilicate glass ampules and the tendency of the inner surface stripping

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
Author information +
文章历史 +

本文亮点

{{article.keyPoints_cn}}

HeighLight

{{article.keyPoints_en}}

摘要

{{article.zhaiyao_cn}}

Abstract

{{article.zhaiyao_en}}

关键词

Key words

本文二维码

引用本文

导出引用
{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2019, 39(12): 2214-2220 https://doi.org/10.16155/j.0254-1793.2019.12.13
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2019, 39(12): 2214-2220 https://doi.org/10.16155/j.0254-1793.2019.12.13
中图分类号:

参考文献

参考文献

{{article.reference}}

基金


编委:
主编:
责任编辑:
编辑:

版权

{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}

Accesses

Citation

Detail

段落导航
相关文章

/